Raw Read Error Rate - Частота появления ошибок при чтении данных с пластинки. Данный параметр показывает частоту появления ошибок при операциях чтения с поверхности пластинки по вину аппаратной части накопителя.
Существует два способа запуска тестов S.M.A.R.T.: автономный (off-line) или монопольный (captive). Итог теста всегда сохраняется накопителем в данных S.M.A.R.T.
Атрибуты S.M.A.R.T. - специальные характеристики, которые используются при анализе состояния и запаса производительности накопителя. Яны выбираются производителем, основываясь на их способности предсказывать ухудшение рабочих характеристик накопителя или определить его дефектность.
Технология S.M.A.R.T. была подготовленная для оснащения IDE/АТА
после предоставления спецификации SFF-8035 публично. Накопители SCSI строятся на основе разных спецификаций и стандартов, которые определяются документом X3T10/94-100 организации ANSI.
S.M.A.R.T. (Self-Monitoring Analysis and Reporting Technology) - технология самотестирования разработанная производителями твердых пластинок для обеспечения более высокой степени надежности хранения информации. Суть S.M.A.R.T.